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外界干扰会对KMGA 740红外测温仪产生的影响介绍

 更新时间:2021-05-14 点击量:859
  KMGA 740红外测温仪提供了一个快速准确的检测物体表面温度的方便快捷的方法,其紧凑小巧的设计让用户更容易携带和上手操作。计量校准修正后,其测量数据更加准确。如校准发现测量仪数据超差较大、测量重复性差、性能不稳定,则建议停用。
  在被测表面上的干扰主要包括辐射率和外来光。根据斯蒂芬·玻耳兹曼定律,物体的全辐射能为E=eoT4。对于黑体,因为黑度e=1,用KMGA 740红外测温仪测出了辐射能可直接知道温度。但是对于一般物体辐射能,不仅与温度有关,而且还与表面黑度有关。黑度又与很多因素,如与物质的种类、温度、波长和表面状态等有关。只有在测量之前,已知物体表面的黑度或采取黑度温度同时测量的方法,才能正确地测出物体表面的真实温度。
  外来光是指从其他光源入射到被测表面上并且被反射出来,混入到测量光中的成分。在室外测温时的太阳光,在室内测量时,从天窗射入的太阳光、照明、附近的加热炉等都是外来光的光源。测量炉内被加热的物体温度时,炉壁就是外来光的光源。外来光的光源温度越高、非透明体表面光泽越强或黑度越低,对温度的影响越强。
  如要定性地判断测量系统是否被外来光干扰,可将被测面围起来,遮蔽外来光,此时要特别注意KMGA 740红外测温仪的指示是否变化。如果指示值不发生变化,那就意味着外来光对测量系统没有影响。如有影响,则应改变测量方向或设置遮光装置。
  希望上述内容能够帮助大家更好的了解本测温仪。
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