技术文章
首页 > 技术文章 > 硅片专用测温仪-Impac IS 50-Si-LO plus

硅片专用测温仪-Impac IS 50-Si-LO plus

 更新时间:2024-11-15 点击量:169

碳化硅在半导体领域(SiC)它是一种备受关注的材料,因其优异的高温和低温工作性能而备受尊敬。碳化硅作为一种宽禁带半导体,可以在高温和低温环境下保持良好的电气性能,在许多领域具有广阔的应用前景。

温度变化会影响碳化硅片的物理、化学和电学性能,高温下其会热膨胀、硬度及机械性能改变、化学反应活性增强、原子扩散加快、载流子迁移率变化,低温时会收缩、变脆,在不同温区还会因环境因素引发如吸附水汽、影响电学性能等各类相关情况。

c8b05401a79fbedf42106ab06da6d5c6_t01335ce85f88162231.jpg

Impac IS 50-Si-LO plus测温仪采用特殊波长,适用于硅片的测量,测温范围400-1600 °C,该仪器配备了一根光纤以及一个可更换的光纤测头,不受电磁干扰(如:感应)的影响,耐温可高达250 °C。
根据不同的测量距离,有两个不同的测头可供选择,可实现小的光斑尺寸。激光靶光可以用来瞄准测量物体。

cfdc6ac1a5c72e367c515db7cf22d61b_IS50-LOplus.jpg

技术支持:化工仪器网   sitemap.xml   管理登陆
©2024 版权所有:上海明策电子科技有限公司   备案号:沪ICP备11011516号-5