D&S AE1/RD1发射率测量仪技术解析

D&S AE1/RD1发射率测量仪技术解析

在材料热性能测试领域，发射率（emittance，也称辐射率）是一个基础但不容易测准的参数。Devices and Services公司的AE1/RD1发射率测量仪是行业内用得比较多的便携式发射率测量设备，特点是操作简单、重复性好、不需要加热样品。

测量原理：不用加热样品

AE1的测量原理比较巧妙：它有一个电加热的探测器头。测量时，把探测器头扣在样品表面，通过探测器与样品之间的热交换来测定样品的发射率。用标准样品校准之后，对比被测样品的热交换差异，就可以算出被测样品的发射率数值。

这个原理的好处是——被测样品不需要加热。传统发射率测量方法往往需要把样品加热到一定温度，对于热敏材料（比如涂层、薄膜、塑料）来说不太友好。AE1不需要加热样品，所以适用范围更广。

技术规格

AE1的重复性为±0.01发射率单位。注意这个指标说的是重复性，不是测量准确度——发射率测量的准确度本身比较难定义，因为缺乏真正意义上"标准"的发射率参考样品。实际操作中通常用已知发射率的标准板进行比对校准，用重复性来表征测量的一致性。

测量流程：设备预热大约30分钟达到热平衡后，每1.5分钟可以完成一次读数。每次测量先放标准板校准，再测样品，流程比较直接。

AE1配合RD1数字电压表使用，RD1可以把探测器输出的信号直接换算成发射率数值显示在屏幕上，不需要查表或者做计算。

适配器扩展测量能力

标准配置的AE1测量口径比较大，对于小样品或者形状不规则的样品，Devices and Services提供几种适配器：AD1和AD3用于小面积样品，ADP用于不规则表面几何形状。这些适配器的设计比较简单——本质上是限制探测器头的有效测量面积或者让它贴合异形表面。

适配器的使用需要注意一点：换了适配器之后，标准板的校准也需要用相同口径来做，否则会有系统偏差。

典型应用

AE1在以下领域用得比较多：一是建筑节能——测量屋顶涂层、外墙涂料的发射率，评估其隔热性能；二是太阳能热利用——选择性吸收涂层的发射率直接影响集热器的效率；三是材料研发——涂层配方筛选时快速测量发射率做对比。

需要说明的是，AE1测量的是室温附近的发射率（因为探测器本身维持在略高于环境温度的恒定温差下工作，样品不需要额外加热）。如果材料在高温下的发射率和常温差异较大（比如某些金属和陶瓷），那AE1的测量结果不能直接外推到高温条件。

技术服务支持

上海明策光电技术有限公司作为Devices and Services品牌在中国的授权代理商，提供AE1/RD1发射率测量仪的技术咨询、产品演示和校准服务。如果需要测量材料的热发射率，可以联系明策光电了解具体方案。