FCLIP卡扣式融合成像器校轴仪是一个计算机化的测试平台，用于测试卡扣式融合成像器、热像仪和夜视仪。FCLIP能够测量决定融合成像器的像移的几个校轴参数。
FCLIP校轴仪设计思路是将位于可变距离标准靶标投影到被测成像器的物方，然后分析两个成像通道产生的图像。具体投影图像由BTG宽带目标发生器产生，由CRI反射型平行光管投影到被测成像器上的物方。

FCLIP-A配置：专注于测量无限远目标情况下两个成像通道的偏转角。在实际应用中，通常假设被测成像器的光学物镜焦距大于2000mm即可视为无限远测试场景，因此该配置能够满足大多数卡扣式成像器的基础测试需求，具备高性价比与广泛的适用性；

FCLIP-B配置：在FCLIP-A配置的基础上进行功能升级，除具备相同的无限远通道偏转角测量能力外，新增了两个成像通道分辨率的测量功能。分辨率作为评价成像质量的核心指标，该功能的加入使得设备能够更全面地评估被测成像器的成像性能，为成像设备的质量检测提供更丰富的数据支撑；

FCLIP-C配置：在FCLIP-B配置的测试能力基础上，进一步新增了图像旋转偏差的测量功能。图像旋转偏差直接影响成像的稳定性与准确性，尤其在精密光学成像设备的测试中至关重要，该配置能够精准捕捉这一参数，满足更高精度的测试需求；

FCLIP-D配置：针对高性能融合成像器的特殊测试需求设计，可实现有限远目标（距离涵盖约50m、100m、200m、400m、1000m）及无限远目标情况下两个成像通道轴偏差的测量。对于高性能融合成像器而言，有限远目标下的校轴性能直接决定了设备在实际应用场景中的表现，因此该配置成为高性能设备研发与质量检测的核心工具。