JT400多传感器轴对准测试系统

产品简介：

JT400多传感器轴对准测试系统是波兰Inframet推出的经济型高精度多传感器光轴对准测试系统，专为多光谱融合光电系统研发调试、量产校准与售后校验设计，主打多通道光轴一致性检测与基础光电参数测试。相较于大型MS测试系统，JT400在保证军工级测试精度的同时，大幅优化设备成本与部署难度，是兼顾性能与性价比的标准化轴对准解决方案

Name: JT400多传感器轴对准测试系统
Brand: INFRAMET
Price: 5000 CNY
Availability: InStock

产品厂地：上海市

更新时间：2026-06-08

厂商性质：代理商

访问量：527

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产品介绍

一、产品概述

JT400多传感器轴对准测试系统是波兰Inframet推出的经济型高精度多传感器光轴对准测试系统，专为多光谱融合光电系统研发调试、量产校准与售后校验设计，主打多通道光轴一致性检测与基础光电参数测试。相较于大型MS测试系统，JT400在保证军工级测试精度的同时，大幅优化设备成本与部署难度，是兼顾性能与性价比的标准化轴对准解决方案。

设备可适配集成红外热像仪、可见光/近红外相机、短波红外探测模块、激光测距机、激光指示器的复合型光电载荷，有效解决多传感器设备普遍存在的跨通道光轴偏移、瞄准偏差、图像错位、融合精度不足等问题，广泛应用于单兵光电设备、车载光电吊舱、安防双光设备、小型机载光电系统的精度标定与性能验收。

二、系统组成与工作原理

JT400多传感器轴对准测试系统采用模块化宽光谱平行光管架构，整机由高精度离轴反射式平行光管、多光谱目标靶标模块、宽波段光源单元、精密调节载台、专用图像采集与分析软件组成，结构集成紧凑，无需复杂外接配套设备。

系统依托统一基准光轴输出无限远标准靶标图像，被测多传感器设备各通道分别采集基准目标，软件自动识别各通道成像中心、瞄准十字、靶标偏移量，精准解算红外、可见光、激光通道之间的相对光轴偏差、平行度误差、瞄准偏移量，完成多通道轴对准校正与精度验证。同时支持多视场、多焦距设备适配测试，可一次性完成整机光轴一致性校验与基础光电参数检测，大幅提升多传感器设备校准效率。

三、核心技术特点

多模态跨通道适配能力原生兼容LWIR长波红外、VIS/NIR可见光近红外、SWIR短波红外、激光测距/指示多波段通道，可同步完成热成像、光学成像、激光通道的交叉轴对准测试，覆盖主流多光谱融合光电设备配置。
高精度光轴检测性能依托精密平行光管光学基准与亚像素图像识别算法，可实现微弧级光轴偏差检测，精准捕捉微小轴偏移误差，满足军工级光电设备同轴度、平行度校准标准，保障多通道融合成像与瞄准精度。
高性价比标准化方案区别于大型全功能测试系统，JT400聚焦核心轴对准功能，精简冗余配置，在保留核心测试精度的前提下，大幅降低设备采购与运维成本，适配批量产线常态化校准与中小型实验室常规测试需求。
灵活模块化扩展设计支持按需扩展短波红外模块、大视场适配模块、外场便携组件，可适配不同口径、不同视场、不同焦距的多传感器设备，兼容单兵、车载、小型机载各类光电载荷。
全自动智能测试流程配套专用分析软件，实现靶标自动识别、偏差自动解算、数据自动记录、测试报告一键生成，规避人工读数误差，测试数据可重复、可溯源，适配量产标准化质控流程。
轻量化易部署结构整机集成度高、结构稳定、调试简单，既可固定部署于实验室完成精密标定，也可满足产线工位快速部署、设备返修校准、现场验收测试等多场景使用需求。

四、核心测试项目

多通道光轴对准：红外↔可见光、红外↔激光、可见光↔激光跨通道同轴度、平行度偏差测试
瞄准精度测试：各通道瞄准十字偏移、整机瞄准零位偏差校验
成像配准测试：多光谱图像相对偏移、旋转偏差、融合对位精度检测
基础光学参数：系统分辨率、视场一致性、成像畸变辅助验证

五、产品核心优势

JT400多传感器轴对准系统核心优势为多波段兼容、高精度、高性价比、易扩展、全自动测试。专为中小型多光谱融合光电设备量身打造，精准解决行业内“全功能设备成本高、简易工装精度不足"的痛点，兼顾科研研发的高精度需求与量产产线的高效率、低成本质控需求。设备光学基准稳定、抗干扰能力强、长期重复性优异，可长期稳定服役于批量生产、研发调试、设备复检、项目验收全流程。

六、典型应用场景

单兵光电装备领域：双光/三光融合单兵夜视仪、光电瞄准镜的多通道轴对准校准与出厂质控。
车载安防光电领域：车载双光云台、安防多光谱监控设备、光电探测模组的光轴一致性标定。
军工科研领域：小型机载光电吊舱、战术光电载荷的研发调试、精度校正与验收测试。
量产质控领域：多传感器融合设备批量生产的标准化轴对准检测，保障产品整机一致性与成像融合精度。
售后维保领域：设备返修、老化校准、外场验收的快速轴对准校验，保障设备长期使用精度稳定。

Inframet设计生产的用于测试多传感器监控系统的MS系列测试系统不仅支持这些监控系统的扩展性测试，也支持轴对准测试。然而，MS系列测试系统是相对昂贵的测试系统。JT多传感器轴对准测试系统是相对经济的系统，用于的轴对准测试以及光电多传感器监控系统的基本参数测试。

测试功能：

1.不同视场的热像仪的轴对准；

2.不同镜头焦距的可见光-近红外相机的轴对准；

3.可见光-近红外相机与热像仪之间的轴对准；

4.激光测距机与可见光-近红外相机之间的轴对准；

5. 激光测距机与热像仪之间的轴对准；

6.激光指示器与可见光/近红外相机以及热像仪之间的轴对准；

7.可见光/近红外相机的分辨率/灵敏度；

8.热像仪的分辨率；

9.激光测距机的发散角；

10.参考光轴与参考机械轴(平面)的对准误差。

可选：

1. 可见光/近红外相机与短波红外相机之间的轴对准；

2. 热像仪与短波红外相机之间的轴对准；

3. 短波红外相机的分辨率/灵敏度。

产品参数

表1. JT系列系统的版本基于平行光管口径

口径编码	平行光管有效输出口径（mm）	平行光管内死区 (mm)	尺寸
JT150	150	46	270x340x740 mm
JT200	200	51	320x410x980 mm
JT250	250	56	350x440x1150mm
JT300	300	70	450x520x1450mm
JT400	400	81	550x620x1850mm
JT500	500	96	650x 720x2300 mm
JT600	600	125	750x820x2750mm
JT-EX	可选600以上	/	/

表2. JT测试系统版本

编码	计算机化控制/轴对准/测试功能	模块
X1	非计算机化测试系统典型的成像系统的轴对准（热像仪，电视相机，光学瞄准系统等）测试范围：可见光-近红外相机以及热像仪的分辨率测试	CJT平行光管，DNSB双色源，CDNSB控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标
X2	非计算机化测试系统典型的成像系统的轴对准（热像仪，电视相机，光学瞄准系统等）以及单脉冲激光测距机测试范围：可见光-近红外相机以及热像仪的分辨率测试	CJT平行光管，DNSB双色源，CDNSB控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标，多图形靶标，一组MON卡，一组TEG卡，一组TEP卡，一组OA衰减器，AH1适配器
X3	X2+多脉冲激光测距机与激光指示器可以被校准，增加了ABS卡，LIC卡以及两个ILU卡。	CJT平行光管，DNSB双色源，CDNSB控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标，多图形靶标，一组MON卡，一组TEG卡，一组TEP卡，一组OA衰减器，AH1适配器，ABS卡，LIC卡以及两套ILU卡
Y1	计算机化测试系统典型的成像系统的轴对准（热像仪，电视相机，光学瞄准系统等）与单脉冲激光测距机测试范围：可见光-近红外相机以及热像仪的分辨率测试粗略测试激光测距机的发散角	CJT平行光管，DNSB双色源，CDNSB控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标，多图形靶标，一组MON卡，一组TEG卡，一组TEP卡，一组OA衰减器，AH1适配器，图像采集卡，计算机，BOR软件
Y2	Y1+多脉冲激光测距机与激光指示器	CJT平行光管，DNSB双色源，CDNSB控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标，多图形靶标，一组MON卡，一组TEG卡，一组TEP卡，一组OA衰减器，AH1适配器，图像采集卡，计算机，BOR软件，ABS卡，LIC卡以及两套ILU卡
Y3	Y2+ JT光轴可垂直于被测系统固定平台的基准机械面	Y2+带自准直功能的CJT平行光管、及BRL相机
Y4	Y3+激光测距机的发散角测试功能	Y3+SR10相机以及升级BOR软件
Y5	Y4+激光接收器轴对准功能	Y4+BRES接收器对准模块和CBRES控制程序