红外焦平面阵列是热成像系统最重要的核心部件。探测器电路（核心）的设计是热成像系统的关键部分。因为红外焦平面阵列的参数决定了热像仪系统的性能极限，红外焦平面技术或热像仪技术方面的专业人员必须精确地了解红外焦平面阵列参数方面的知识。因此，测量红外焦平面阵列性能的测量设备是研发红外热成像系统的关键。

FT测试系统的FT-S配置（光谱参数测量）

      红外焦平面阵列是热成像系统最重要的核心部件。探测器电路（核心）的设计是热成像系统的关键部分。因为红外焦平面阵列的参数决定了热像仪系统的性能极限，红外焦平面技术或热像仪技术方面的专业人员必须精确地了解红外焦平面阵列参数方面的知识。因此，测量红外焦平面阵列性能的测量设备是研发红外热成像系统的关键。

      FT是一个完备的测试系统，它产生精确控制时空分布的红外，辐射到红外焦平面的输入平面来控制被测红外焦平面；最后对被测红外焦平面阵列（或热像仪核心）进行表征所需的输出信号进行半自动分析。

      该系统能够测量热像仪核心和红外焦平面阵列的所有重要参数（噪声/灵敏度、成像质量和光谱参数）。可测试不同光谱波段（LWIR或MWIR）、冷却或非冷却的探测器。FT系统可以在一系列版本中提供，并针对不同测试范围的热成像核心和红外焦平面阵列进行优化，还可以选择能够测试完整的热像仪的超扩展版本。

FT测量系统一个模块化的系统，可以方便快速地配置成三个半独立的测量工作站：FT-N，FT-I，和FT-S。

1.FT-N——噪声和响应参数的测量；

2.FT-I——成像质量参数的测量

3.FT-S——光谱参数测量。