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FT型热像仪核心及IR FPA测试系统
产品简介:

FT型热像仪核心及IR FPA测试系统:红外焦平面阵列是热成像系统最重要的核心部件。探测器电路(核心)的设计是热成像系统的关键部分。因为红外焦平面阵列的参数决定了热像仪系统的性能极限,红外焦平面技术或热像仪技术方面的专业人员必须精确地了解红外焦平面阵列参数方面的知识。因此,测量红外焦平面阵列性能的测量设备是研发红外热成像系统的关键。

产品厂地:上海市

更新时间:2026-01-05

厂商性质:代理商

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产品介绍

FT 测试系统的 FT-S 配置(光谱参数测量)

红外焦平面阵列是热成像系统最重要的核心部件,其参数直接决定了热像仪系统的性能极限,因此FT 测试系统成为研发红外热成像系统的关键设备 —— 它能帮助专业人员精确掌握红外焦平面阵列的参数特性。
FT 测试系统是一套完备的设备,通过产生精确控制时空分布的红外辐射作用于红外焦平面输入平面,再对半自动分析被测器件的输出信号,从而完成对红外焦平面阵列(或热像仪核心)的性能表征。该系统可覆盖热像仪核心与红外焦平面阵列的全维度参数测量(包括噪声 / 灵敏度、成像质量及光谱参数),适配 LWIR/MWIR 等不同光谱波段,兼容冷却 / 非冷却探测器,还能根据测试需求提供多版本配置,甚至支持完整热像仪测试的超扩展版本。
作为模块化系统,FT 测量系统可快速拆分为三个半独立工作站:
  1. FT-N—— 负责噪声和响应参数测量;

  2. FT-I—— 负责成像质量参数测量;

  3. FT-S—— 即本次介绍的光谱参数测量配置,是FT 测试系统针对红外焦平面阵列光谱特性专项优化的功能模块。



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